OES – Optička emisijska spektrometrija
Optička emisijska spektrometrija (OES) s pobuđivanjem luka/iskre omogućuje brzu elementarnu analizu čvrstih metalnih uzoraka. Ova tehnika odgovara najzahtjevnijim analizama u metaloprerađivačkoj industriji, od nadzora proizvodnje do istr...
Pročitajte više
OEA - Organska elementna analiza
Instrumenti organske elementne analize osiguravaju jednostavnost uporabe, preciznost mjerenja i troškovno su učinkoviti pri kvantifikaciji ugljika, vodika, dušika, sumpora i kisika (CHNS/O). Osiguravaju brzo, pouzdano i precizno mjerenje...
Pročitajte više
Softver za elementnu analizu
Intuitivan, korisnički orijentiran softver, dizajniran za pojednostavljenje radnog procesa i povećanje učinkovitosti – softversko rješenje koje omogućuje jednostavnu rotaciju/promjene od strane laboratorijskih tehničara.
Pročitajte više
AAS - Atomska apsorpcijska spektroskopija
Serija iCE 3000 AAS omogućuje jednostavno mjerenje elemenata u širokom rasponu uzoraka. Plameni raspršivački analizator idealan je za mjerenje uzoraka s visokom koncentracijom, dok grafitna peć postiže granicu detekcije do sub ppb. Dvojn...
Pročitajte više
ICP-OES - Spektrometrija induktivno spregnutom plazmom
Thermo Scientific ICP OES serije iCAP PRO odlikuju se visokom učinkovitošću i fleksibilnošću te omogućuju da svaki laboratorij bude spreman na sve nove izazove. Serija iCAP PRO omogućuje brze i jednostavno dobivene rezultate, pri čemu os...
Pročitajte više
ICP-MS - Masena spektrometrija s induktivno spregnutom plazmom
Inovativna ICP-MS rješenja tvrtke Thermo Scientific osmišljena su tako da odgovaraju potrebama bilo kojeg laboratorija, od visoko učinkovitih i rutinskih do najsuvremenijih istraživačkih. S naprednom sposobnošću za pouzdano i precizno ge...
Pročitajte više
GD-MS - Masena spektrometrija tinjajućim izbojem
Maseni spektrometar s tinjajućim izbojem (GD-MS) vrhunski je alat za izravnu analizu krutih tvari visoke čistoće, kao i poluvodiča i keramičkih prašaka, poput Al2O3 ili SiC. Primjene za dubinsko profiliranje sežu od nanometra do debljine...
Pročitajte više
XRF - Rendgenska fluorescentna spektrometrija
XRF instrumentima postižete brzu karakterizaciju i analizu materijala, čime osiguravate ispunjavanje specifikacija kemijskih proizvoda. Tehnologija rendgenske fluorescencije (XRF) zlatni je standard za preciznu, nedestruktivnu analizu el...
Pročitajte više
XRD - Rendgenska difrakcija
Rendgenska difrakcija (XRD) je potpuna nedestruktivna analitička tehnika koja omogućuje brzo dobivanje detaljnih informacija o fazama i strukturi kristalnih materijala. XRD analiza daje visoko učinkovite rezultate u širokom rasponu indus...
Pročitajte više
XPS - Rendgenska fotoelektronska spektrometrija
XPS spektrometri su namijenjeni naprednoj površinskoj analizi materijala. Povećana potražnja za visoko učinkovitim i kompleksnijim materijalima povećava i važnost analize površina. Budući da je površina materijala točka interakcije s van...
Pročitajte više
Oprema za pripremu uzoraka pri elementnoj analizi
Pri elementnoj analizi poželjno je da uzorak bude reprezentativan, homogen i prikladan za analitičku metodu koja nas zanima. Odgovarajuća priprema uzoraka vodi do veće preciznosti i točnosti analize, kraćeg vremena analiziranja i nižih t...
Pročitajte više
Aplikacije u području elementarne analize
