Rendgenski fotoelektronski spektrometar Thermo Scientific Nexsa G2 (XPS) nudi potpuno automatiziranu analizu površine, koja pruža analitičke podatke za pomoć pri pokretanju istraživanja i razvoja te za rješavanje proizvodnih problema. Integracija XPS-a sa spektroskopijom ionskog raspršenja (ISS), UV fotoelektronskom spektroskopijom (UPS), spektroskopijom gubitka energije odbijenih elektrona (REELS) i Ramanovom spektroskopijom omogućuje provedbu prave korelacijske analize. Sustav uključuje mogućnosti zagrijavanja uzoraka i mogućnosti prilagodbe uzoraka za povećanje opsega mogućih eksperimenata. Sustav za analizu površina Nexsa G2 otvara potencijal za napredak u znanosti o materijalima, mikroelektronici, razvoju nanotehnologije i brojnim drugim primjenama.
Početna
Proizvodi
Analitička oprema
Elementna analiza
XPS - Rendgenska fotoelektronska spektrometrija
Nexsa G2 rendgenski fotoelektronski spektrometar za analizu površina
